AW104X Series 광원 장치는 CCD/CMOS 이미지 센서용 각종 테스터에 접속시켜 디바이스 테스트를 서포트하는 광원 장치 입니다. 여러개의 동시 측정을 가능하게 하는 넓은 조사 영역과 높은 균일성을 실현한 광원장치 입니다. 유효 조사 영역은 110mm입니다.
AW105X Series 광원 장치는 대형사이즈의 CCD/CMOS 이미지 센서용 각종 테스터에 접속시켜 디바이스 테스트를 서포트하는 광원장치 입니다. 여러개의 동시 측정을 가능하게 하는 넓은 조사 영역과 높은 균일성을 실현한 광원 장치 입니다. 유효 조사 영역은 90x104mm 입니다.
AW2170 series는 300mm Wafer에 대응하기 위한 넓은 영역의 조사 Area를 제공합니다. 유효 조사 영역은 154x154mm 입니다.